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更新年月日 2011年03月10日
X線回折装置(薄膜)| 項目 | 内容 |
|---|---|
| 機器名 | X線回折装置(薄膜) |
| 使用料Ｎｏ | |
| 分類 | 分析・評価機器 |
| 担当 | 電子技術部 |
| 仕様 | 入射ビーム光学系：X線ミラーモジュール／X線レンズモジュール受光ビーム光学系：逆格子空間マッピング測定用アナライザー／試料ステージ：5軸モーター制御 |
| 用途 | 結晶構造解析／表面反射率測定 |
| 手数料Ｎｏ ／試験名 | 2520 Ｘ線回折試験
2530 Ｘ線回折試験 |
| 製造社名 | フィリップス |
| 規格 | X`Pert-MRD |
| 導入年度 | 平成14年度 |
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